雷射干涉服務


 

雷尼紹(RENISHAW)雷射干涉儀代客量測服務(1)線性量測 (2)直線度量測

在對位置精度要求高的運動系統中,機台實際位置與命令位置之間的任何誤差通常是由環境條件變化、機械磨損或角度俯仰和扭擺等因素造成的。雷射干涉儀提供精準、可重複的校正方法。

採用雷射干涉儀測量機台精度和重複性的方法是,驅動機台的平台移動至由運動系統的讀數控制的一系列預定義位置,然後在每個位置使用雷射干涉儀採集一個讀數。誤差的數值則為機台的控制器讀數與雷射干涉儀讀數之間的差值,擷取誤差值的數值,以對機台執行誤差補償。

(一) 線性測量:用於測量線性位置精度,是最常用的雷射測量形式。

XL-80 線 性 測 量
標 準 範 圍 0 m至80 m
精 度(配用XC補償器) ±0.5 ppm *
解 析 度 0.001 µm
最 高 速 度 每分鐘240米 (4 m/s)
注:表格中的精度數值未考慮將材料溫度歸一化為20°C時產生的讀數誤差。
* k=2(95%置信度)EA-4/02,ISO

(二) 直線度測量:用於測量沿線性軸的直線度誤差。(測量距離為0.1 m至4 m)
直線度誤差是垂直於運動軸的位移,而垂直方向或水準方向則取決於光學鏡組的安裝方向。直線度誤差通常是由於垂直於驅動系統運動軸的垂直或水準偏差,或導軌的整體準直偏差造成的。誤差是垂直於運動行程的垂直或水準偏差。直線度誤差通常是由於導軌磨損、軸線撞擊或驅動滑塊裝配偏差造成的。        

a. 直線度測量(水準軸 — 水準平面):水平測量平面

b. 直線度測量(水準軸 — 垂直平面):垂直測量平面

XL-80 直 線 度 測 量
軸 向 量 程 短 距 0.1 m至4.0 m 
直線度測量範圍 ±2.5 mm
精 度 短 距 ±0.5% ±0.5 ±0.15M2 µm
解析度 短 距 0.01 µm
* 使用資料拼接功能可實現更長距離的測量 % = 所顯示數值的百分率
M = 測量距離(米) † 表格中的規格參數未考慮空氣擾動的影響

 

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